Семинар-практикум «Корреляционная микроскопия для решения ключевых задач науки о живом»

Россия, Москва

Форма участия: заочная

23 апреля 2014 года на базе лаборатории применения аналитического оборудования компании Системы для Микроскопии и Анализа (СМА) в Сколково пройдет семинар-практикум «Корреляционная микроскопия для решения ключевых задач науки о живом». Организаторами мероприятия являются компании-партнеры FEI и СМА.

В рамках мероприятия будут представлены последние достижения FEI для решения ключевых задач науки о живом: структурная, клеточная биология, гистология, введение в корреляционную световую и электронную микроскопию, а также решения корреляционной микроскопии для криоисследований и исследований на живых культурах.

Участникам мероприятия будет представлен практикум по корреляционному рабочему процессу, в т.ч. пробоподготовка, использование готовых данных, получение изображений просвечивающей световой микроскопии, получение изображений электронной микроскопии.

Директор компании СМА В.Я. Шкловер выступит с докладом на тему «Мультимасштабная объемная микроскопия: опыт применения в биомедицинских исследованиях».

В рамках семинара пройдут демонстрационные секции:
- Демонстрация концепции программного продукта Maps на микроскопе CorrSight, включая получение изображений световой микроскопии;
- Демонстрация концепции программного продукта Maps на микроскопе Helios, включая получение изображений электронной микроскопии.

Для участников семинара будет организован трансфер от ст. м. «Славянский бульвар до Сколково (утро) и обратно (день, вечер). Во время мероприятия будет осуществляться устный последовательный перевод презентаций на русский язык.
Участие в мероприятии бесплатное по обязательной предварительной регистрации. Регистрация на сайте www.microscop.ru, а также по тел.: +7 (495) 933 43 17 (Регина Годжиева, Ксения Барсукова). Также можно направить заявку на barsukova@microscop.ru, microscop@microscop.ru,
Регистрация открыта до 11 апреля 2014 г.

ПРОГРАММА
Семинара-практикума
КОРЕЛЛЯЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
для решения ключевых задач Науки о живом
Дата: 23 апреля 2014 г.
Место: Сколково (МО), ул. Новая, д. 100, корпус «Урал».
Организаторы: FEI, Системы для микроскопии и анализа

09.30 – 10.00 – Регистрация, кофе
10.00 – 10.15 – Приветственная речь. Peter Fruhstorfer, FEI
10.15 – 10.30 – Приветственная речь. Владимир Яковлевич Шкловер, директор СМА
10.30 – 11.15 – Решение задач науки о живом от FEI – Структурная, клеточная биология, гистология, введение в корреляционную световую и электронную микроскопию / FEI Life Science solutions – Strct Bio, Cell Bio, Tissue Bio, intro CLEM (iCorr vs CorrSight short). Ben Lich, FEI
11.15 – 11.30 – Вопросы и ответы
11.30 – 11.45 – Кофе-брейк
11.45 – 12.30 – Практикум по корреляционному рабочему процессу – Пробоподготовка – Использование готовых данных – Получение изображений просвечивающей световой микроскопии – Получение изображений электронной микроскопии / Correlative Workflow used during WS – Sample prep – Using existing data – Acquiring Transmission LM – Acquire EM data – Present sample prep. Kristian Wadel, FEI
12.30 – 12.45 – Вопросы и ответы
12.45 – 13.30 – Мультимасштабная объемная микроскопия: опыт применения в биомедицинских исследованиях / Multiscale volume microscopy: applications in life sciences. В.Я. Шкловер, СМА
13.30 – 15.00 – Фуршет
15.00 – 17.00 – Параллельные демонстрационные секции:
- Демонстрация концепции программного продукта Maps на микроскопе CorrSight, включая получение изображений световой микроскопии / Maps concept demo on CorrSight – Include LM data acquisition
- Демонстрация концепции программного продукта Maps на микроскопе Helios, включая получение изображений электронной микроскопии / Maps concept demo on Helios – Include EM data acquisition
17.00 – 17.45 – Решения корреляционной микроскопии для криоисследований и исследований на живых культурах / Presentation Correlative microscopy solutions Cryo, Live. Kristian Wadel, FEI
17.45 – 18.00 – Подведение итогов, кофе

О компаниях организаторах:

FEI – Обладая более чем 60 летним опытом в области инноваций, компания FEI занимает лидирующие позиции на рынке сканирующих (SEM), просвечивающих (ТЕМ) электронных микроскопов и ионно-лучевых приборов (FIB). Компания предлагает комплексные решения в области аппаратного и программного обеспечения, инновационные разработки в электронной, ионной и световой микроскопии для широкого спектра областей применения: материаловедение, наука о живом, электроника, природных ресурсы.

Системы для Микроскопии и Анализа – одна из ведущих российских научно-технических компаний, проводник инноваций и последних достижений в области систем для электронной, оптической микроскопии, рентгеновского микроанализа в широком диапазоне применения: микроэлектроника, наука о живом, природные ресурсы, материаловедение. Компания имеет собственную высокотехнологичную аналитическую лабораторию, которая в сентябре 2013 года получила статус аккредитованного центра коллективного пользования «Микроанализ» в Сколково.

При обращении к организаторам мероприятия обязательно ссылайтесь на сайт «Конференции.ru» как на источник информации.

Последний день подачи заявки: 11 апреля 2014 г. (приём заявок закончен)

Организаторы: Системы для Микроскопии и Анализа, FEI

Контактная информация: Веб: www.microscop.ru

Эл. почта: barsukova@microscop.ru

Приложения: Информационное сообщение (.doc, 75 КБ)

Поделитесь информацией о мероприятии со знакомыми: